UIH-3CUIH-3D型INTECS半导体晶圆掩模玻璃检测光源 当高强度光照射到目标物体（*1）上时，に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し，从而可以轻松地目视检查表面划痕、灰尘、内部异物和气泡。
*1 智能手机、半导体晶圆、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！
UIH-3D型INTECS半导体晶圆掩模玻璃检测光源
- 01
更新日期
2026-09-29
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2026-09-29
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厂商性质
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UIH-2DUIH-2C型INTECS半导体晶圆横截面形状光源 当高强度光照射到目标物体（*1）上时，に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し，从而可以轻松地目视检查表面划痕、灰尘、内部异物和气泡。
*1 智能手机、半导体晶圆、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！
UIH-2C型INTECS半导体晶圆横截面形状光源
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更新日期
2026-09-29
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UIH-2CINTECS/英特斯半导体晶圆横截面形状光源 当高强度光照射到目标物体（*1）上时，に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し，从而可以轻松地目视检查表面划痕、灰尘、内部异物和气泡。
*1 智能手机、半导体晶圆、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！
INTECS/英特斯半导体晶圆横截面形状光源
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UIH-1HINTECS/英特斯超高亮度照明UIH-1C光源设备 当高强度光照射到目标物体（*1）上时，に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し，从而可以轻松地目视检查表面划痕、灰尘、内部异物和气泡。
*1 智能手机、半导体晶圆、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！
INTECS/英特斯超高亮度照明UIH-1C光源设备
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UIH-1CINTECS/英特斯超高亮度照明光源设备UIH-1H 当高强度光照射到目标物体（*1）上时，に高輝度の光をあてるとチンダル現象が発生し，从而可以轻松地目视检查表面划痕、灰尘、内部异物和气泡。
*1 智能手机、半导体晶圆、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！
INTECS/英特斯超高亮度照明光源设备UIH-1H
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更新日期
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